TrabalhosGratuitos.com - Trabalhos, Monografias, Artigos, Exames, Resumos de livros, Dissertações
Pesquisar

Descrição Dispositivo Gal

Pesquisas Acadêmicas: Descrição Dispositivo Gal. Pesquise 862.000+ trabalhos acadêmicos

Por:   •  11/12/2014  •  Pesquisas Acadêmicas  •  6.060 Palavras (25 Páginas)  •  257 Visualizações

Página 1 de 25

JEDEC padrão Número 3A

Esta seção define um formato para a transferência de informações entre um conjunto de dados

sistema de preparação e um programador do dispositivo de lógica. Formato JEDEC prevê,

mas não está limitado a, a transferência de fusível, o teste, a identificação, e comentário

informações em uma representação ASCII, e define o "código intermediário"

entre programadores de dispositivos e sistemas de preparação de dados. Ela não define

arquitetura do dispositivo nem define programação algoritmos ou o dispositivo

informações específicas para aceder aos fusíveis ou células.

Nota: Esta secção representa uma implementação de Dados I / específico-O

de JEDEC padrão No. 3A.

O padrão inclui um protocolo de transmissão baseado em PROM tradicional

formatos que permitem que um programador do dispositivo de partilhar uma porta serial do computador com um

terminal. O protocolo não é um protocolo de comunicações completa e não

fazer tentativas ou correção de erros. Este protocolo não é necessária se o dispositivo

programador tem de armazenamento local, como um disquete.

Os dispositivos lógicos programáveis podem exigir mais testes do que programável

memórias, de modo que o padrão define um formato de teste funcional. este teste

formato vetorial não é um propósito geral linguagem de teste paramétrico. a seguir

figura mostra um exemplo de um arquivo de dados PLD.

<STX> Arquivo para PLD 12S8 Criado em 8-Feb-85 03:05

6809 memória de decodificação 123-0017-001

Joe Engenheiro avançada Logic Corp *

QP20 * QF448 * VQ8 *

F0 * X0 *

L001111101111111111111111111111 *

L281011111111111111111111111111 *

L561110111111111111111111111111 *

L120101011101111011111111111111 *

L240101011110111011111111111111 *

L360101011101110111111111111111 *

V0001000000XXXNXXXHHHLXXN *

V0002010000XXXNXXXHHHLXXN *

V0003100000XXXNXXXHHHLXXN *

V0004110000XXXNXXXHHHLXXN *

V0005111000XXXNXXXHLHHXXN *

V0006111010XXXNXXXHHHHXXN *

V0007111100XXXNXXXHHLHXXN *

V0008111110XXXNXXXLHHHXXN *

C124E * << >> ETX 8A76

RESUMO DAS programação e testes CAMPOS

As informações de programação e teste está contido em vários campos. para

conformidade com a norma, o programador dispositivo, testador, e desenvolvimento

sistema deve fornecer e reconhecimento de certos campos. A tabela seguinte lista

os identificadores de campo e descrições.

identificador Descrição

(n / a) especificação do projeto

N Nota

QF Número de fusíveis no dispositivo

QP Número de pinos em vetores de teste ***

QV Número máximo de vetores de teste ***

F Estado fusível padrão *

Lista Fuse L *

C Fusível de checksum

X condição de teste padrão **

Vetores V Teste **

P Pin seqüência **

D Dispositivo (obsoleto)

Fusível G Segurança

R, S, T análise assinatura

Um tempo de acesso

* Programador deve reconhecer

** Tester deve reconhecer

*** Sistema de desenvolvimento deve fornecer

ANOTAÇÕES E DEFINIÇÕES ESPECIAIS

Notação Convenções

Além das descrições e exemplos, este apêndice usa os Backus-

Naur (BNF) para definir a sintaxe do formato de transferência de dados. BNF é um

notação abreviada que segue estas regras:

":: =" Significa "é definido como".

Personagens entre aspas simples são literais (obrigatório).

Colchetes

...

Baixar como (para membros premium)  txt (33.3 Kb)  
Continuar por mais 24 páginas »
Disponível apenas no TrabalhosGratuitos.com