Relatório - Materiais
Por: Lucas Tanaka • 23/6/2017 • Relatório de pesquisa • 990 Palavras (4 Páginas) • 333 Visualizações
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UNIVERSIDADE FEDERAL DO ABC
BACHARELADO EM CIÊNCIA & TECNOLOGIA
BRUNA VENANCIO
CAROLINE RAMALHO
LUIZA LANDI
MARJORIE ALVEZ
MILENA AGUIRRE
VANESSA SANTOS
RELATÓRIO I DE MATERIAIS E SUAS PROPRIEDADES
ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X – LEI DE BRAGG
PROFa. DRa. CHRISTIANE RIBEIRO
SÃO BERNARDO DO CAMPO
2017
SUMÁRIO
1. INTRODUÇÃO 3
2. OBJETIVO 4
3. METODOLOGIA E RESULTADOS 5
4. RESULTADOS 7
5. CONCLUSÃO 9
REFERENCIAS 10
INTRODUÇÃO
O raio X foi descoberto pelo físico alemão Wilhelm Konrad Röentgen no final do século 19 enquanto ele trabalha com raios catódicos e percebeu que a folha de papel tratada com platinocianeto de bário emitia luz.
O raio X é uma forma de radiação eletromagnética que possui um pequeno comprimento de onda, menor que a radiação ultravioleta e contém também uma alta energia. Os raios podem ser gerados através de feixes de elétrons acelerados contra um alvo metálico, no qual a análise de sua difração (interferência construtiva) é muito importante para a compreensão dos arranjos atômicos e moleculares nos sólidos, sendo utilizada como principal ferramenta de investigação sobre a estrutura cristalina dos materiais.
A análise da difração dos raios X é amplamente utilizada para identificar também os compostos de forma tanto qualitativa como quantitativa, determinar tensões, tamanho dos cristais, parâmetros de rede e orientação dos cristais. A análise é aplicada juntamente com a Lei de Bragg e com isso é possível determinar e explicar as propriedades da estrutura dos materiais cristalinos.
A forte interação da Engenharia de Materiais e da Ciência com outras especialidades possibilitou sua aplicação em inúmeras áreas, principalmente na extensa área de engenharia, em que saber as propriedades de certos materiais é de grande importância
OBJETIVO
A primeira aula prática de Materiais e Suas Propriedades tem como objetivo:
- Compreender os princípios envolvidos na análise de difração de raios X para a identificação dos materiais de engenharia com base em sua estrutura cristalina;
- Analisar um difratograma de raios X;
- Compreender o princípio de funcionamento de um difratômetro de raios X;
- Aplicar os conceitos da análise de difração de raios X.
METODOLOGIA E RESULTADOS
Através dos dados recebidos do difratograma de raios X, é capaz de descobrir qual o material correspondente aos dados. Para isso, é necessário normalizar os picos de intensidade plotando o gráfico do excel que relaciona a intensidade pelo ângulo de incidência do comprimento de onda do Molibdênio. O comprimento de onda é facilmente achado em livros e corresponde a λ = 0,071073 nm.
Posteriormente foi feito os cálculos do seno do ângulo e o quadrado do seno, utilizando os ângulos nos quais estão os picos de intensidade normalizados. Porém o ângulo dado no difratograma é 2θ, logo, deve-se dividir o ângulo por 2 para receber o θ.
Dessa forma, já é possível obter o valor da distância interplanar d usando a Lei de Bragg. 2*d*sen(θ) = n* λ → d = λ/(2* sen(θ)), onde θ é o ângulo de incidência para cada pico de intensidade, n=1 e λ = 0,071073 nm.
Após isso, para descobrir qual estrutura cristalina tem o sólido em questão, é de suma importância utilizar o método de checagem de valores, utilizando assim os índices de Miller para cada pico gerado no gráfico. As três possíveis estruturas cristalinas são: cúbica simples com S= {1,2,3,4,5,6...); cúbica de corpo centrado com S= {2,4,6,8,10...} e cúbica de face centrada com S= {3,4,8,11,12,...}. Com os índices de Miller colocados, foi atribuído os valores de h, k e l. Logo após, foi feito o calculo de √(h²+k²+l²).
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