ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X: PRINCÍPIOS E APLICAÇÕES PARA INVESTIGAÇÃO DAS ESTRUTURAS DOS MATERIAIS DE ENGENHARIA
Por: anasaito • 6/3/2017 • Relatório de pesquisa • 323 Palavras (2 Páginas) • 371 Visualizações
ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X: PRINCÍPIOS E APLICAÇÕES PARA INVESTIGAÇÃO DAS ESTRUTURAS DOS MATERIAIS DE ENGENHARIA
Amanda 11119714
Ana Luisa Saito 11021215
Gabriel Sodré 11037313
Giulia Lazzarutti 11045113
Guilherme Saldanha 11106913
Gráfico 1 - Difratograma do Cu
Através de cálculos aprendidos em aula, obtemos, a partir do gráfico, as seguintes informações:
2Θ
Intensidade
Int. Relat. (%)
Θ
senΘ
Sen²Θ
d
38.1
3572
100,00%
19.05
0.326
0.106
0.236
44.3
1760
49.20%
22.15
0.377
0.142
0.204
64.5
1054
29.50%
32.25
0.533
0.284
0.144
77.5
1059
29.60%
38.75
0.625
0.39
0.123
81.6
299
8.30%
40.8
0.653
0.426
0.118
98
134
3.70%
49
0.754
0.568
0.102
110.6
383
10.30%
55.3
0.822
0.675
0.093
115.1
380
10.60%
57.55
0.843
0.71
0.091
135.1
306
8.50%
67.55
0.924
0.853
0.083
157.2
343
9.60%
78.6
0.98
0.96
0.078
Tabela 1 - Valores referentes ao Difratograma do Cu
O valor da intensidade foi normalizado utilizando-se o maior pico como 100% e os demais tiveram seus valores relativos, sendo o pico o referencial.
O espaço interplanar foi obtido com o uso da fórmula:
n = 2 d𝗁𝗄𝗅 sen
=0.154184
Para descobrir a estrutura do material é preciso comparar os padrões utilizando a seguinte fórmula:
Os valores de S a serem utilizados seguirão a tabela abaixo:
Estrutura
S=h²+k²+l²
CS
1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8…
CCC
2, 4, 6, 8, 10, 12, 14…
CFC
3, 4, 8, 11, 12, 16…
Tabela 2 - Valores de S para cada estrutura
Conferiremos qual tipo de estrutura nos dará a sequência correta de valores (idênticos ou muito próximos) e assim será possível definir qual a estrutura.
Simples
Corpo Centrado
Face Centrada
Scs
Sen²Θ/Sсs
Sccc
Sen²Θ/Sccc
Scfc
Sen²Θ/Scfc
1
0.106
2
0.053
3
0.035
2
0.071
4
0.035
4
0.035
3
0.094
...