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Controle Metrológico de Produtos e Processos

Por:   •  9/6/2015  •  Exam  •  475 Palavras (2 Páginas)  •  298 Visualizações

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FACULDADE ANHANGUERA DE CAMPINAS – FAC 4  

               DISCIPLINA: Controle Metrológico de Produtos e Processos         Prof. Alaor

Aluno:        ____________________________________Ra___________________

Curso:__________________________________________ Semestre:_______

                                             

Lista de Exercícios – Rugosidade Superficial

  1. Rugosidade Superficial é o conjunto de irregularidades, isto é, pequenas ______________ e ________________ que caracterizam uma superfície. Essas irregularidades podem ser avaliadas com aparelhos eletrônicos chamados__________________
  1. A rugosidade desempenha um papel importante no comportamento dos componentes mecânicos. Cite 4 influências da rugosidade nos componentes mecânicos

1-_____________________________________________

2-_____________________________________________

3-_____________________________________________

4-_____________________________________________

  1. Relacione à coluna A (Parâmetros de avaliação de rugosidade) com a coluna B (definição)

                     Coluna A

                                             Coluna B

                      (    ) Rz

                     

                     (    ) Rmax

                     

                     

                    (    ) Ra

1. É a média aritmética dos valores absolutos das ordenadas dos afastamentos dos pontos do perfil de rugosidade, em relação à linha média, dentro do percurso de medição lm.

2. É a média aritmética dos 5 valores da rugosidade parcial Zi. A rugosidade parcial Zi é definida como a soma dos valores absolutos das ordenadas dos pontos de maiores afastamentos (acima e abaixo da linha média) existentes dentro de um comprimento de amostragem le.Graficamente, este valor representa a altura entre os pontos máximo e mínimo do perfil, dentro do comprimento de amostragem le

3. É o maior valor das rugosidades parciais Zi, que se apresenta no percurso de medição lm.

[pic 1]

[pic 2]

...

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