Métodos microscópicos

Técnicas microscópicas.

Microscópia Optica:

Para o estudo das caracteristicas dos materiais se utiliza o microscópio óptico. Materiais que são sujeitos a observação e apenas a superficie dos mesmos são visiveis pois são materiais que utilizam sistemas ópticos e de iluminação. Os materiais são preparados cuidadosamente são lixados e polidos para que seja revelados os detelhes importantes. A analise do material mostra os resultados das diferentes partes do objeto. O procedimento ataque químico um tratamento de superficie que utiliza reagentes químicos apropriados. As amostras após o ataque químico apresentam diferentes características de grão em grão. Ao contorno dos grãos se apresentam os sulcos, que são constatados após o ataque qímico.

Microscopia Eletronica

Alguns elementos estruturais são muitos finas ou pequenos para serem observados atraves da microscopia optica pois pois a ampliação máxima é aproximadamente 2000 x, com tal circunstância empregamos a utilização do microscópio eletrônico que é capaz de ampliar muitas vezes mais. O microcópio eletrônico emprega a utilização de feixeis de elétrons. Um eletron acelerado através de grandes tensões adquiri comprimentos de ondas. As ampliações maiores e poderes de resoluçãpo de microscópio eletrônico são consequências de comprimentos curtos de eletrons e feixeis de elétrons.

Microscipia Eletrônica de transmissão

Os detalhes das caracteristicas da microestrutura interna fica assecível à

observação, os feixes são produzidos em vários elementos da microestrutura sendo os solidos altamente absorvente para os feixeis de eletrons. As ampliações aproximam-se de 1.000.000 X.

Microscopia Eletrônica de Varredura

Asuperficie de uma amostra é examinada com feixe de eletrons que é refletido e coletado. A imagem pode ser fotografada e apresenta caracteristicas da superficie da amostra. A superficie pode ou não ser polida ou submetida a um ataque químico, porém ela de ser aplicada sobre superficie de materiais não condutores. Ampliações entre 10 e mais de 50.000X, da mesma forma que também são possíveis profundidades grandes.

Microscopia de Ponta de Prova

Esse microscópio gera um mapa topografico em escala atômica, que uma representação das propriedades da superficie e caracteristicas da amostra sob exame. É possível realizar um exame em escala nanométrica uma vez que são possíveis ampliações de até 10 X; são gerados imagens ampliadas tridimensional, que fornecem informações topograficas sobre caracteristicas de interesse. Os microscopios com ponto de prova empregam uma minúscula sonda que é colocada em grande proximidade, isto é, dentro de uma distância da ordem do nanometro com superficie da amostra; a sonda experimenta defexões perpendiculares. Os movimentos da sonda são controlados por meio dde componentes ceramicos.